Fabian Tanalski  

Patent professional
ftanalski@merh-ip.com  

Fabian Tanalski ist derzeit als technischer Experte tätig und strebt die Ausbildung zum europäischen Patentanwalt an.

Herr Tanalski hat an der Universität Duisburg-Essen Physik studiert und seine Masterarbeit zum Thema Klimaveränderungen aufgrund extremer Methanemissionen mit Hilfe des Klima-Chemie-Modells EMAC beim deutschen Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) in Oberpfaffenhofen absolviert. Neben Erfahrungen in der Klimaforschung und der Simulation sammelte Herr Tanalski während seiner Bachelorarbeit Erfahrungen in der Charakterisierung und Spektroskopie von dünnen Schichten im Nano Energie Technik Zentrum (NETZ) der Universität Duisburg-Essen. Als studentische Hilfskraft erweiterte Herr Tanalski in der Augenklinik des Klinikums der Universität München seine Fähigkeiten im Bereich Datenbankmanagement und statistische Auswertungen.

Herr Tanalski begann seine Tätigkeit bei MERH-IP als Patentingenieur 2017 im direkten Anschluss seiner Masterarbeit und bringt spezielle Kenntnisse auf den Gebieten Optik, Software, Halbleiter- und Nanotechnologie und angewandter Physik mit.